測量輻射粒子的厚型氣體電子倍增探測器THGEM多孔膜板近日在航天科工集團(tuán)試制成功，其高精度、高密度和在較低工作電壓下獲得高氣體增益的特點(diǎn)，將為我國這類新型氣體探測器的研發(fā)躋身國際先進(jìn)水平奠定基礎(chǔ)。
該氣體探測器研發(fā)項(xiàng)目是中科院研究生院和高能物理研究所合作的國家自然科學(xué)基金課題，其THGEM多孔膜板由中國航天科工集團(tuán)公司二院699廠承擔(dān)試制。該探測器可應(yīng)用于高能物理核物理(如切倫科夫探測器和熱快中子探測器)研究、X射線和同步輻射應(yīng)用、宇宙學(xué)空間研究(如暗物質(zhì)探索與航天領(lǐng)域用探測器)、等離子體診斷、核安全防護(hù)方面的微劑量檢測與利用宇宙線多次散射檢測核材料、生物醫(yī)學(xué)成像與對紫外光區(qū)靈敏的日盲探測等方面。
據(jù)介紹，自歐洲核子研究中心科學(xué)家發(fā)明氣體電子倍增探測器GEM多孔膜板以來，此類膜板僅在極少數(shù)國外單位制成，在特殊條件下才能少量供應(yīng)。
(來源：科技日報(bào)) |
